［周波数特性グラフ］

■SPL ■2nd D ■3rd D ■Impedance / 測定環境

【参考】［＜疑似＞自由音場補正周波数特性グラフ］

■SPL ■SPL(after free field compensation) ■ITU-T P.58 Free Field Frequency Response

【補足】「＜疑似＞自由音場補正周波数特性」について

「自由音場補正周波数特性」とは，一般社団法人 電子情報技術産業協会(以下JEITA)が発行する規格 “RC-8140B-1 ヘッドホン及びイヤホン（追補）（2016年3月発行）”の中で定義されている周波数特性です。 この周波数特性の意味するところは，規格を推進されたJEITAの委員へのインタビュー記事「各社バラバラに計測「ヘッドホンのハイレゾ測定法」がついに統一？ JEITAの新規格を聞く(Phile-web 2016/6/10)」で詳しく解説されていますので，そちらをご参照ください。

上記のインタビュー記事ではハイレゾ測定にフォーカスされていますが， イヤホンの特性をスピーカの特性のように読みやすくするという意味で可聴帯域でも有効な方法です（つまりフラットを基準に出来る）。

しかし，規格通りに測定するのは，測定器が高価すぎて個人レベルではほぼ困難です。 そのため今回の方法には，①規格に沿った測定器を用いていない， ②自由音場補正のためのデータが使用した測定器の実測値に基づくものではない，という二つの大きな問題があります。 ということから＜疑似＞という言い方をしています。

以上のように，データの信頼性は残念ながら全くありませんが， とにかくやってみなければ何もわからないということで，今回挑戦してみました。 上記①については，以前から使っているシリコンチューブを使った自作カプラーを使用し， 上記②については，ITU-T勧告P.58で定義されているHATSの自由音場特性の値を適用しました。 測定はARTA Softwareのオクターブ分析機能を用い，ピンクノイズ1mW相当の入力に対し1/3オクターブバンドで分析して値を出しています。

ということで，こういった幾つもの前提条件を念頭にデータを見ていただければと思います。

［仕様］